產品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,綜合 |
自動化薄膜厚度繪圖系統
依靠F50薄膜厚度測量儀的光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。F50系統配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。
系統中預設了許多極坐標形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術便可在幾分鐘內建立自己需要的圖形模式。
F50薄膜厚度測量儀可測樣品膜層
基本上光滑的，非金屬的薄膜可以測量。可測樣品包括：
- 上一個： Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀
- 下一個： KLA探針式臺階儀P-7