熱膨脹分析儀
型 號(hào)SD-DIL 402 Expedis
所屬分類分析儀器
報(bào)價(jià)9999
更新時(shí)間2024-11-17
產(chǎn)品概述
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 基本功能
軟化點(diǎn)檢測(cè)
軟件控制的力的調(diào)整(包括:線性力,恒定力,斜變力,步階力)
調(diào)制力
密度測(cè)量
用于溫度校正和檢測(cè)熱效應(yīng)的c-DTA® 功能
速率控制燒結(jié) RCS
曲線識(shí)別,通過(guò)數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)比識(shí)別未知的ΔL/L0曲線
密度測(cè)量,能夠測(cè)量樣品密度的連續(xù)變化,可應(yīng)用于固體、液體、熔體、粘稠樣品(如涂料),以及用于計(jì)算各向異性材料的體膨脹。
熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 技術(shù)參數(shù)
溫度范圍: -180 ... 2000°C(不同爐體)
升溫速率: 0 ... 100°C/min(不同爐體)
測(cè)量氣氛: 動(dòng)態(tài)或靜態(tài);氧化、還原、惰性、真空
樣品形態(tài): 固體、液體、粉末
樣品載荷: 10mN ... 3N,可變,可調(diào)制(選配)
選配擴(kuò)展功能: c-DTA®、譜圖檢索、速率控制燒結(jié)
量程: ±25000μm
測(cè)量分辨率: 0.1nm
測(cè)試模式: 單樣品/雙樣品,樣品長(zhǎng)度自動(dòng)檢測(cè)
Multitouch技術(shù) : 標(biāo)配
Nanoeye位移傳感及載荷控制技術(shù): 標(biāo)配
雙爐體: 選配
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